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方块电阻测试仪有哪些特点?

方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜等同类物质的薄层电阻。
方块电阻测试仪大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。
方块电阻测试仪的特点:
1、采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;
2、以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
3、采用单个电池供电,带电池欠压指示;
4、体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5、特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜;
6、探头带抗静电模块。

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